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ESD测试仪其实是一款静电放电发生器,静电是由两种🔯不同物质的互相摩擦,通过正负电荷积蓄在相互摩擦的两个物体而形成高电压。人造纤维和塑料是常见的摩擦起电材料,当摩擦产生电压后,就会出现ESD问题。对🦩于电子元器件来说,静电能量是不能忽视的,它可以击穿半导体元件,从而破坏电子电路。
通常ESD测试仪通过两种主要方式产生EMC问题:即传导方式和辐射干扰方式。
(1)传导方式。静电放电电流直接流过电路中,因为ESD产生很高的电压,如果进入到半✱导体,就可能产生误操作,并且很容易破坏半导体器件,现代半导体元器ဣ件的内部绝缘常常会在几十伏电压下击穿并且永久短路,这是一个很严重的ESD问题,日常生活中这个问题是普遍存在的。
(2)辐射干扰。当静电放电时(可用静电放电测试仪模拟测试),产生的火花电压会产生辐射𝓡磁场和电场。磁场能够在附近电路的各个信号环路中感应出噪声电压。由于在很短时间内产生了较大的静电电流,所以在信号环路中产生的噪声电压可能会超过逻辑元器件🏅的阈值电平,引起元器件的误触发。
在电路中,因为人体静电产生的ESD问题是最常见的。干燥气候环境下人体ESD的电压很容易超过8kV、15kV甚至20kV,因此我们需要重视这💞样的静电电压对PCB及元器件的影响,并采取相应措施防止ESD问题。